Microscopi electrònic

De Viquipèdia

 Microscopi electrònic de transmissió.
Microscopi electrònic de transmissió.

El microscopi electrònic és un aparell destinat per a poder fer observacions de la matèria a nivells molt més petits que la microscopia òptica. Es diferencia dels microscopis òptics perque utilitzen electrons en comptes de fotons.

En tractar-se de particules amb comportament dual, que actuen alhora com a partícula i com a ona, actuen com una ona electromagnètica amb una longitud d'ona molt més petita que la dels fotons, permetent una major resolució de les imatges.

El flux primari d'electrons pot controlar-se amb l'ús de lents electromagnètiques, que es situen sobre el canó.

El primer microscopi electrònic comercial va ser posat al mercat per Siemens a la decada dels 1930

[edita] Fonaments

La microscopia electrònica es basa en la cració d'un flux d'electrons, els quals són accelerarts i canalitzats en un flux. En impactar en la mostra a observar aquests es reflexen i es difracten en funció de la composició de la matèria sobre la que impacten, creant electrons secundaris que són els que crearan la imatge observada.

[edita] Tipus de microscopis electrònics

En funció del tipus de comportament dels electrons secundaris es poden classificar en microscopis electrònics de transmissió (MET en l'acrònim anglés) i microscopis electrònics d'escaneig (SEM, acrònim anglés).

En els microscopis electrònics de transmissió els electrons secundaris s'originen per desviació o per desplaçament d'electrons de la mostra travessada, que prèviament ha estat fixada i tenyida amb materials electrodensos. La placa on els electrons secundaris impacten i generen la imatge òptica està sota de la mostra.

En els microscopis electrònics d'escaneig els electrons secundaris s'originen per desplaçament d'electrons de la superfície de la mostra. Els receptors es troben situats a la base del canó per sobre de la pletina. La imatge generada és tridimensional, talment com una fotografia, podent-se observar diferents aspectes de la mostra segons la orientació que es doni a la pletina, en contraposició al TEM en que les mostres són sempre làmines fines de material.

En aquest cas es poden treballar a augments similars a la microscopia òptica, però eliminant-se els efectes de difracció que tenen els fotons.